Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 с камерой переменного давления (VP-SEM)
Модель SU3800, как и его более вместительная версия SU3900, является универсальным стандартом семейства Hi-SEM Hitachi. SU3800 идеально подходит как для заводских лабораторий, сталкивающихся с широким спектром потребностей приложений: от исследований и разработок до мониторинга производства, анализа отказов и контроля качества, так для применения в научных исследования институтов РАН и ВУЗов.
Большая аналитическая камера образцов вмещает объекты диаметром до 200 мм (до 300 мм для SU3900) и высотой 80 мм (до 130 мм для SU3900).
Аналитические возможности high-end класса и возможности расширения в будущем обеспечены 14 (20 для SU3900) доступными портами камеры образцов, включая 4x EDX, EBSD, WDX и др.
Как и все Hi-SEM, SU3800 предлагает в качестве стандарта, кроме классического режима высокого вакуума, режим переменного давления (UVD-детектор) для визуализации и анализа непроводящих образцов без необходимости нанесения проводящего покрытия.
SE и 5-сегментные BSE-детекторы являются стандартными. Многочисленные дополнительные опции доступны для визуализации, автоматизации и анализа.
Детекторы:
Детектор вторичных электронов
Высокочувствительный полупроводниковый детектор обратно рассеянных электронов
UVD-детектор.
Источник электронов:
Предварительно центрированный вольфрамовый катод.
Количество портов:
14 (SU3800) 20 (SU3900) |
Дополнительное оборудование: