Модель SU3800, как и его более вместительная версия SU3900, является универсальным стандартом семейства Hi-SEM Hitachi. SU3800 идеально подходит как для заводских лабораторий, сталкивающихся с широким спектром потребностей приложений: от исследований и разработок до мониторинга производства, анализа отказов и контроля качества, так для применения в научных исследования институтов РАН и ВУЗов.

Большая аналитическая камера образцов вмещает объекты диаметром до 200 мм (до 300 мм для SU3900) и высотой 80 мм (до 130 мм для SU3900).

Аналитические возможности high-end класса и возможности расширения в будущем обеспечены 14 (20 для SU3900) доступными портами камеры образцов, включая 4x EDX, EBSD, WDX и др.

Как и все Hi-SEM, SU3800 предлагает в качестве стандарта, кроме классического режима высокого вакуума, режим переменного давления (UVD-детектор) для визуализации и анализа непроводящих образцов без необходимости нанесения проводящего покрытия.

SE и 5-сегментные BSE-детекторы являются стандартными. Многочисленные дополнительные опции доступны для визуализации, автоматизации и анализа.

Детекторы:

Детектор вторичных электронов

Высокочувствительный полупроводниковый детектор обратно рассеянных электронов
UVD-детектор.

Источник электронов:

Предварительно центрированный вольфрамовый катод.

Количество портов:

Дополнительное оборудование:

• Системы автоматического управления Sprite
• ИК-камеры для наблюдением за образцом
• Система для охлаждения/нагрева образца
• Бланкер электронного луча
• SDD детекторы серии XFlash® 6
• WDS спектрометр Xsense