Холодный полевой катод
Сканирующий электронный микроскоп HITACHI Regulus SU8200 позволяет проводить исследование крупных образцов при высоком разрешении (до 1 нм), чему способствует наличие мощной электронной пушки с холодным полевым катодом и конструкция semi-in-lens (объективная открытая линза). Широкий экран (24,1 дюйма) с оптимальным разрешением (1920 х 1200) и большой диапазон угла вращения столика для образцов облегчают работу исследователя, упрощая управление прибором. Улучшенное детектирование сигнала позволяет отображать верхний слой поверхности образца.
Сверхвысокое разрешение сканирующего электронного микроскопа SU9000 Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения с небольшим размером источника и распределением энергии. Инновационная CFE-технология пистолета обеспечивает превосходную FE-SEM яркость и стабильность луча, что позволяет получать изображения высокого разрешения и проводить высококачественный элементный анализ.